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On Signal Tracing for Debugging Speedpath-Related Electrical Errors in Post-Silicon Validation

机译：调试硅后验证中与速度路径相关的电气错误的信号跟踪

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Xiao Liu; Qiang Xu;
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年度 2013
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1. Post-silicon debugging of PMU integration errors using behavioral models [J] . Antara Ain, Subhankar Mukherjee, Pallab Dasgupta, Integration . 2013,第3期

机译：使用行为模型对PMU集成错误进行硅后调试
2. Mapping Trigger Conditions onto Trigger Units during Post-silicon Validation and Debugging [J] . Ko Ho Fai, Nicolici Nicola Computers, IEEE Transactions on . 2012,第11期

机译：硅后验证和调试期间将触发条件映射到触发单元
3. On Multiplexed Signal Tracing for Post-Silicon Validation [J] . Liu X., Xu Q. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on . 2013,第5期

机译：硅后验证的多路信号跟踪
4. On Signal Tracing for Debugging Speedpath-Related Electrical Errors in Post-Silicon Validation [C] . Liu Xiao, Xu Qiang 2010 19th IEEE Asian Test Symposium . 2010

机译：调试硅后验证中与速度路径相关的电气错误的信号跟踪
5. On-chip debug architectures for improving observability during post-silicon validation. [D] . Anis Daoud, Ehab Alfons. 2008

机译：片上调试体系结构，用于提高后硅验证期间的可观察性。
6. A debug scheme to improve the error identification in post-silicon validation [O] . Inhyuk Choi, Won Jung, Hyunggoy Oh, 2012

机译：一种调试方案，用于改进硅后验证中的错误识别
7. On Multiplexed Signal Tracing for Post-Silicon Debug [O] . Xiao Liu, Qiang Xu 2011

机译：关于后硅调试的多路复用信号跟踪
8. DDT (Dynamic Debugging Technique) and TDT (Tracing Debugging Technique) for PDP-11 Systems [R] . Bering, D. E. 1978

机译：pDp-11系统的DDT（动态调试技术）和TDT（跟踪调试技术）

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